標題: 研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量
To Investigate the Time-Domain Calculation and the Measurement of a Propagating Signal on Transmission Lines in GaAs Substrate
作者: 張振雄
CHANG CHEN-SHIUNG
國立交通大學光電工程研究所
關鍵字: 傳輸線;電光取樣;砷化鎵;Transmission line;Electro-optic sampling;GaAs
公開日期: 1994
摘要: 我們自從已推導出的傳輸線理論,可瞭解到 幾種常用之傳輸線的特性,諸如在傳輸線上介 質之有效介電常數和其電性阻抗.由此可推算 出信號在不同結構的傳輸線中,對頻率的損耗 及色散大小.更進一步也在實驗上藉著電光取 樣的技術,我們在時域上可量測到信號的相位, 損耗及傳輸速度在不同時間上的變化,並與理 論公式所預測之結果加以比較.
官方說明文件#: NSC83-0404-E009-056
URI: http://hdl.handle.net/11536/97391
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=120688&docId=20128
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