標題: 運用掃描式探針顯微鏡研製與分析矽奈米電子元件(II)
Fabrication and Characterization of Silicon Nanoelectronic Devices with Scanning Probe Microscope(II)
作者: 許鉦宗
SHEU JENG TZONG
國立交通大學奈米科技研究所
公開日期: 2004
官方說明文件#: NSC93-2215-E009-080
URI: http://hdl.handle.net/11536/91236
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1027499&docId=195424
顯示於類別:研究計畫


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