標題: 光學檢測機台之智慧型缺陷識別技術
Intelligent Defect Recognition in an AOI Machine
作者: 林錫寬
LIN SHIR-KUAN
交通大學電機與控制工程系
公開日期: 2004
官方說明文件#: NSC93-2622-E009-007-CC3
URI: http://hdl.handle.net/11536/91215
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1032770&docId=196923
顯示於類別:研究計畫


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