標題: 以電子背散射繞射儀(EBSD)來研究錫膜的電遷移行為
Study of Electromigration Behavior in Sn Films Using EBSD
作者: 陳智
Chen Chih
交通大學材料科學與工程系
公開日期: 2004
官方說明文件#: NSC93-2216-E009-018-Y
URI: http://hdl.handle.net/11536/91087
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=913158&docId=172684
顯示於類別:研究計畫


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