標題: 近場光聲顯微術在奈米尺度異結構殘留應力的量測研究(II)
Determination of Residual Stresses in Nanometer Scale Heterosturctures Using Near-field Photoacoustic Microscopy(II)
作者: 尹慶中
YIN CHING-CHUNG
交通大學機械工程系
公開日期: 2004
官方說明文件#: NSC93-2212-E009-007
URI: http://hdl.handle.net/11536/91080
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=984813&docId=183789
顯示於類別:研究計畫


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