標題: 奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(II)
Nano-CMOS Charge Ballistic Transport, Quantum Effect, Characterization, and Reliability Study(II)
作者: 汪大暉
WANG TAHUI
交通大學電子工程系
公開日期: 2005
官方說明文件#: NSC94-2215-E009-009
URI: http://hdl.handle.net/11536/89962
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1143851&docId=219368
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