標題: 液晶顯示器之原始資料驅動IC的測試―障礙涵蓋率之增加與早期故障率之降低
作者: 楊振瀛
李崇仁
電機學院電子與光電學程
關鍵字: 原始資料驅動;早期故障率
公開日期: 2001
摘要: 在這篇論文中,我們提出藉由”增加原始資料驅動IC之障礙涵蓋率”與”降低其早期故障率”,來提升原始資料驅動IC之產品品質。我們首先研究原始資料驅動IC之線路設計,並對照其原有觀察的病徵,找出完整的全碼對角線測試圖樣,來取代高壓數位碼對角線測試圖樣,然後再依據原始資料驅動IC之實際電路佈局,找到IC中,並行排列之64*1多工器之最佳測試圖樣的向量組合及計算公式,此計算公式可以計算出多工器的最佳測試圖樣,共需要多少個測試向量。除此之外,我們提出利用高壓、高溫、全碼對角線測試圖樣、Isb量測的Stress可靠性加速測試方法,來快速篩選出具有微小障礙的原始資料驅動IC,達到降低早期故障率的目的。此外,我們再增加一個計算Stress前後之Isb差異(ΔIsb)的測試項,如此可以篩選出更多具有微小障礙的IC,將早期故障率降得更低。經由 ”增加障礙涵蓋率” 與 ”降低其早期故障率”,我們成功的讓產品達到更高的品質。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT901706015
http://hdl.handle.net/11536/69647
顯示於類別:畢業論文