標題: 多相位時序歪斜校正技術及其於時序交錯類比數位轉換器之應用
Multi-Phase Timing Skew Calibratio nand Its Application to Timie-Interleaved ADCs
作者: 王仲益
吳介琮
吳介琮
電子研究所
關鍵字: 類比數位轉換器;analog-to-digital converter
公開日期: 2009
摘要: 高電路廣泛應用於各種電子產品中,隨著MOS電晶體的通道長度越來越短,電晶體的寄生效應也隨之變小,這樣可以大大提升其操作數度以節省功率消耗.然而也是因為通道長度的縮短,使得各種電晶體的非理想特性使得類比電路設計的難度越來˙越高,讓類比電路的效能面臨嚴峻的考驗. 本篇論文描述一個多項位時序校正技術,並將其應用在時序交錯是類比數位轉換器上.針對我們所提出的校正技巧,推導其數學模型,藉以分析應用該系統所需要的最佳參數. 我們實現了一個65奈米金氧半場效電晶體的6-bit,16GS/s 435mW之時序交錯類比數位轉換器,他利用我們所提出的校正技術,將時序歪斜校正至最低,在輸入訊號為3GHz左右,等校取樣頻率為16GHz,可將原本19dB的SNDR改善至28dB,而由時序歪斜所造成的失真訊號則是由28dB改善至49dB.
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009211822
http://hdl.handle.net/11536/67913
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