標題: SPECIFIC CONTACT RESISTIVITY MEASUREMENT BY A VERTICAL KELVIN TEST STRUCTURE
作者: TAN, FL
LEU, LY
CHUNG, LL
電子工程學系及電子研究所
電控工程研究所
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
Institute of Electrical and Control Engineering
公開日期: 1-六月-1987
URI: http://hdl.handle.net/11536/4640
ISSN: 0018-9383
期刊: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Volume: 34
Issue: 6
起始頁: 1390
結束頁: 1395
顯示於類別:期刊論文


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