標題: 全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統
作者: 陳璽文
張銘宏
謝維致
黃威
公開日期: 16-三月-2012
摘要: 本發明提供一種全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統,其係設置於一晶片上,該感測系統包含:一電壓感測裝置、一製程感測裝置、及一溫度感測裝置。其中,溫度感測裝置包含:一偏壓電流產生器、一環形振盪器、一固定脈衝產生器、一及閘、及一第一計數器。偏壓電流產生器依據晶片之工作電壓,而產生一與溫度相關之輸出電流。環形振盪器由輸出電流而產生一振盪訊號,固定脈衝產生器產生固定寬度之一脈衝訊號。第一及閘連接至環形振盪器及固定脈衝產生器,以對振盪訊號及脈衝訊號執行邏輯及運算,以產生一溫度感測訊號。
官方說明文件#: G01R031/303
URI: http://hdl.handle.net/11536/103482
專利國: TWN
專利號碼: 201211560
顯示於類別:專利資料


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