標題: 臨界電壓量測裝置
作者: 莊景德
周世傑
林耕慶
王紹丞
林宜緯
蔡銘謙
石維強
連南鈞
李坤地
朱俊愷
公開日期: 16-十一月-2013
摘要: 本發明係揭露一種臨界電壓量測裝置,其係連接一六電晶體靜態隨機存取記憶體,此記憶體包含二反向器,其係分別連接一場效電晶體,其中一反向器之電源端為浮接,且與此反向器連接之場效電晶體之源極與汲極相互短路,並利用此架構施加不同偏壓,再配合二電壓選擇器、一電阻、一放大器與上述記憶體構成負回授連接方式,以量測出另一反向器之二場效電晶體,及與其連接之場效電晶體之臨界電壓。本發明不用改變六電晶體靜態隨機存取記憶體之物理結構,就可以用單一電路架構量測三顆場效電晶體之臨界電壓,大幅降低製程、量測與時間成本。
官方說明文件#: G01R031/3173
G11C016/02
URI: http://hdl.handle.net/11536/103189
專利國: TWN
專利號碼: 201346300
顯示於類別:專利資料


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