標題: 後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫三:角落錯誤之矽除錯(III)
Silicon Debug for Hard-Corner Design Errors
作者: 周景揚
JOU JING-YANG
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
關鍵字: 除錯;矽除錯;可偵錯度;角落錯誤;錯誤區域辨識;錯誤候選邏輯閘排序;錯誤診斷架構;聚焦離子束;版圖調整;可移動訊號候選排序;Debug;Silicon debug;Diagnosibility;Hard-corner errors;Faulty-region identification;Fault-candidate ranking;Fault diagnosis architecture;Focused-ion-beam;Layout adjustment;moving-signal candidate ranking
公開日期: 2010
官方說明文件#: NSC99-2220-E009-010
URI: http://hdl.handle.net/11536/100617
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2158798&docId=347423
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