標題: 後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫四:應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(III)
Coping with Reliability Challenges to Circuit Designs beyond Deep Sub-Micron Era by Computational Intelligence Reasoning (III)
作者: 溫宏斌
Wen Charles H.-P.
國立交通大學電信工程學系(所)
關鍵字: 軟性電子錯誤率;製程變異;支持向量回歸;蒙地卡羅;統計靜態時序分析;soft error;process variation;SVM;Monte Carlo;SSTA
公開日期: 2010
官方說明文件#: NSC99-2220-E009-011
URI: http://hdl.handle.net/11536/100244
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2159110&docId=347485
顯示於類別:研究計畫


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  1. 992220E009011.PDF