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1995EPROM記憶元件中熱電子效應的可靠性研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程研究所
1999P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2009下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2010下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2011下一世代高性能及高可靠性的N通道MOS元件設計及量測技術探討莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2000不同型摻雜材料浮動閘極快閃式記憶元件可靠性問題之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2016低功耗互補式穿隧場效電晶體的設計與製作 (I)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2015低功耗互補式穿隧場效電晶體的設計與製作 (I)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2001先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(I)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2002先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(II)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2003先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(III)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2011先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2013先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2012先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
1996具有反向短通道效應N型MOS元件性能及可靠性的研究莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系
2000利用氘化及氮化處理製備高可靠性薄閘氧化層深次微米NMOS元件莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2000利用電荷幫浦分佈法研究深次微米N型MOS元件電漿製程傷害之可靠性莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程研究所
2010奈米CMOS元件不均勻、雜和氧化層缺陷導致臨限電壓變異之研究(I)莊紹勳; Chung Steve S; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2005張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(I)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系
2006張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(II)莊紹勳; Chung Steve S; 交通大學電子工程系